模型预测ICD植入不良事件的风险
（Healthday） - 根据12月11日在线发布的研究，可以使用一个简单的模型来预测接受植入式心脏逆转除颤器（ICD）的患者之间发生院内不良事件的风险。美国心脏病学院杂志。
波士顿哈佛大学的医学博士John A. Dodson，同事使用国家心血管数据注册中心的ICD注册表中的数据来开发和验证ICD植入后不良事件的风险模型。
研究人员发现，1.8％的接受ICD放置的患者至少经历了一种院内并发症或死亡。审慎的风险评分，来自12个变量，将患者定为低风险（风险评分为10或以下；并发症的风险，0.3％）或高风险（风险评分30或以上；并发症的风险，4.2％）。ICD放置的风险标准并发症发生率在医院之间差异很大（中位数，1.77；第五百分点，1.16；第95个百分位数，3.15）。
“鉴于他们精心构造且表现良好风险模型，多德森及其同事应因促进我们对ICD程序结果的理解而受到称赞，“写一位伴随社论的作者。
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引用：Model预测ICD植入不良事件的风险（2013年12月12日）2022年9月11日从//www.pyrotek-europe.com/news/2013-12-drestervers-events-events-icd-implantation.html
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